大豆表型檢測儀(yi) /係統是一款利用圖象來分析大豆表型相關(guan) 性狀的檢測係統，可以測量大豆夾角、莖粗、總粒數和千粒重等指標，這些高通量表型參數為(wei) 大豆品種篩選、產(chan) 量預測、基因定位、功能解析等方麵發揮著至關(guan) 重要的作用。大豆育種研究中，大豆表型參數和大豆產(chan) 量、品質、抗逆性等密切相關(guan) ，進而獲取這些參數也顯得尤為(wei) 重要，因此我們(men) 推出了大豆表型檢測儀(yi) 。廣泛適用於(yu) 各農(nong) 科院、高校、育種公司、種子站的大豆研究

作物夾角莖粗測量儀(yi) 是用於(yu) 測量小麥、水稻、油菜等作物夾角、莖粗的專(zhuan) 業(ye) 測量儀(yi) 器，可在離體(ti) 或活體(ti) 情況下測量小麥夾角和莖粗數據，拍照3秒即出結果，可先拍照後批量處理。儀(yi) 器采用壓板和轉軸柄一體(ti) 式連接，方便固定作物莖部，減少風吹草動對作物角度拍攝的影響。

水稻表型檢測儀(yi) 可測量水稻畝(mu) 穗數、理論產(chan) 量、水稻穗粒數、穗長、水稻劍葉夾角、莖粗、水稻株高、一/二次枝梗數量和長度、各枝梗對應的穗粒數、著粒密度、穗長、總粒數和千粒重等指標，這些表型參數為(wei) 水稻品種篩選、水稻產(chan) 量預測、稻穗動態發育、基因定位、功能解析和水稻遺傳(chuan) 育種中發揮著至關(guan) 重要的作用。

玉米表型檢測儀(yi) 不僅(jin) 可以測量凸包麵積、外接矩形麵積、長寬比、側(ce) 視角緊湊度、側(ce) 視角投影麵積、株高、莖稈節間距和莖粗、葉長、葉片彎曲度、莖葉夾角和千粒重等指標，這些高通量表型參數為(wei) 玉米品種篩選、產(chan) 量預測、基因定位、功能解析等方麵發揮著至關(guan) 重要的作用。

小麥表型檢測儀(yi) 可測量小麥株高、夾角、莖粗、小麥畝(mu) 穗數、理論產(chan) 量、穗長、小穗數、總粒數和千粒重等指標，這些表型參數為(wei) 小麥品種篩選、小麥產(chan) 量預測、麥穗動態發育、基因定位、功能解析和小麥遺傳(chuan) 育種中發揮著至關(guan) 重要的作用。