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葉片表型分析係統由高拍儀(yi) +背光板裝置+PC端軟件組成,以拍攝手段獲取圖像後通過PC端軟件進行分析。葉片表型分析係統除生成葉片形態參數外,還會(hui) 生成病斑、蟲損參數,包括殘葉分析和葉色分析。廣泛應用在農(nong) 、林、草、園藝等領域,有效解決(jue) 了該領域工作人員對大批量植株葉片表型參數的快速、便捷、準確的測量問題。
作物冠層分析儀(yi) 可廣泛應用於(yu) 農(nong) 業(ye) 生產(chan) 和農(nong) 業(ye) 科研,為(wei) 進行冠層光能資源調查,測量植物冠層中光線的攔截,研究作物的生長發育、產(chan) 量品質與(yu) 光能利用間的關(guan) 係,本儀(yi) 器用於(yu) 400nm-700nm波段內(nei) 的光合有效輻射(PAR)測量、記錄,測量值的單位是平方米•秒上的微摩爾(μmols-1m-2)。
托普雲(yun) 農(nong) 光合儀(yi) |植物光合儀(yi) |光合作用測定儀(yi) 是筆記本計算和氣體(ti) 分析於(yu) 一體(ti) 的光合呼吸測量儀(yi) 器,植物光合作用測定儀(yi) 可對植物的光合、呼吸、蒸騰等指標進行測量和計算。
托普*200植物冠層分析儀(yi) 的原理:作物組織中的氮素,葉綠素等生化組分中的化學鍵在不同頻率或波長光能的照射下發生振動響應,從(cong) 而引起對某些波長的光產(chan) 生吸收和反射差異,形成了不同的反射光譜。某些波段的光譜對反射率對特定氮素組分量的豐(feng) 缺非常敏感,稱作為(wei) 氮素敏感波段。托普雲(yun) 農(nong) 選用敏感波段的光源照射作物冠層,感光部件同步獲取冠層反射光譜信息,耦合作物生長監測診斷模型,獲取作物生長信息。
TPYM-G-1玉米株高快速測量儀(yi) 由浙江托普雲(yun) 農(nong) 供應,是一種便攜、快捷的玉米株高測量儀(yi) 器,該儀(yi) 器利用手機拍攝獲取玉米株高測量尺圖像,通過算法現場分析,實時獲取玉米株高數據。儀(yi) 器可用於(yu) 玉米高產(chan) 育種,理想株型篩選用。