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專(zhuan) 業(ye) 農(nong) 業(ye) 儀(yi) 器生產(chan) 商
集自主研發、製造、銷售和服務為一體19032001373
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產(chan) 品分類
作物抗倒伏測定儀(yi) 可快速測定植物莖稈的彎折性、抗壓強度以及穿刺強度等參數，適用於(yu) 玉米、高粱等抗倒伏能力測定，在作物生長階段對莖稈進行活體(ti) 測量，進而根據莖稈纖維層的抗彎阻力與(yu) 抗倒伏能力的相關(guan) 性對群體(ti) 測量數據進行統計處理。
光合儀(yi) |光合作用儀(yi) |光合作用測定儀(yi) 有多年曆史，曾為(wei) 各大院校和研究院所提供了大量的高精度的植物光合作用測定儀(yi) ，其中一部分用於(yu) 光合和呼吸研究，但由於(yu) 隻是單一的氣體(ti) 分析儀(yi) ，使用時不方便，為(wei) 了方便用戶，經過幾年的努力，我們(men) 研究出了集筆記本計算機和氣體(ti) 分析於(yu) 一體(ti) 的植物光合作用測定儀(yi) ，利用微機強大的計算功能與(yu) 存貯功能結合紅外線CO2分析儀(yi) 、溫濕度傳(chuan) 感器及光照傳(chuan) 感器，對植物的光合、呼吸、蒸騰等指標測量和計算。
葉片表型分析係統由高拍儀(yi) +背光板裝置+PC端軟件組成，以拍攝手段獲取圖像後通過PC端軟件進行分析。葉片表型分析係統除生成葉片形態參數外，還會(hui) 生成病斑、蟲損參數，包括殘葉分析和葉色分析。廣泛應用在農(nong) 、林、草、園藝等領域，有效解決(jue) 了該領域工作人員對大批量植株葉片表型參數的快速、便捷、準確的測量問題。
作物冠層分析儀(yi) 可廣泛應用於(yu) 農(nong) 業(ye) 生產(chan) 和農(nong) 業(ye) 科研，為(wei) 進行冠層光能資源調查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發育、產(chan) 量品質與(yu) 光能利用間的關(guan) 係，本儀(yi) 器用於(yu) 400nm－700nm波段內(nei) 的光合有效輻射（PAR）測量、記錄,測量值的單位是平方米•秒上的微摩爾（μmols-1m-2）。
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