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葉麵積儀(yi) 測定南瓜葉麵積
葉麵積儀(yi) 主要是用來檢測葉片麵積大小的儀(yi) 器,為(wei) 農(nong) 業(ye) 的生產(chan) 提供數據信息,在滿足農(nong) 業(ye) 生產(chan) 的基礎上提高農(nong) 業(ye) 生產(chan) 的水平。本文主要為(wei) 大家簡單介紹一下該儀(yi) 對南瓜葉麵積的測定。
多年來,人們(men) 對植物葉麵積的測定方法進行了大量的研究,但各種方法或多或少存在一定的缺點。傳(chuan) 統的葉麵積測量法(方格板法)既費工又繁瑣,對南瓜大而不規則的葉片測量更為(wei) 困難;打孔稱(鮮、幹)重法費事,同樣要破壞葉片,其測定結果不準確,受葉片的大小、厚薄、葉齡、打孔方式以及葉片含水量的影響,不宜在實際測定中運用;利用回歸方程法計算葉片麵積,通過建立方程就可以對同一品種類型的葉片進行估計,操作比較簡單,目前已建立了葉麵積與(yu) 葉片長、寬、側(ce) 脈、中脈,甚至葉柄等參數的回歸方程,但該方法需要事先測量大量葉片建立回歸方程,對單個(ge) 葉片誤差較大;另外還有活體(ti) 葉麵積儀(yi) 測定法,該葉麵積儀(yi) 對葉片麵積沒有要求,能夠測定無論多大的麵積,而且對葉片的顏色、厚度、水分含量等都沒有要求,對植物不會(hui) 造成不必要的損傷(shang) 。
使用葉麵積儀(yi) 對南瓜葉麵積進行測定可以快速獲得葉麵積值,相比傳(chuan) 統的測定方法而言,非常快捷、準確。
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