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產(chan) 品分類
為(wei) 了提升稻穀考種效率,可使用水稻整穗考種測量係統來進行自動化地測量、分析,這樣獲取、存儲(chu) 和處理數據也更加方便。該儀(yi) 器采用*的圖像處理技術,帶有根據深度學習(xi) 算法而綜合設計的軟件,主要用於(yu) 在室內(nei) 對稻穀穗粒數、一/二次枝梗數量和長度測量,可廣泛應用於(yu) 水稻形態學的研究、水稻良種選育,為(wei) 各農(nong) 科院、高校、育種公司、種子站等提供良好的檢測工具。
大豆表型檢測儀(yi) /係統是一款利用圖象來分析大豆表型相關(guan) 性狀的檢測係統,可以測量大豆夾角、莖粗、總粒數和千粒重等指標,這些高通量表型參數為(wei) 大豆品種篩選、產(chan) 量預測、基因定位、功能解析等方麵發揮著至關(guan) 重要的作用。大豆育種研究中,大豆表型參數和大豆產(chan) 量、品質、抗逆性等密切相關(guan) ,進而獲取這些參數也顯得尤為(wei) 重要,因此我們(men) 推出了大豆表型檢測儀(yi) 。廣泛適用於(yu) 各農(nong) 科院、高校、育種公司、種子站的大豆研究
TPZW-BX-1作物表型數據采集儀(yi) 主要用於(yu) 測量作物植株表型性狀數據,包含角度測量、長度測量、粗度測量、葉麵積測量等,可以實現自動記錄測量數據,測量數據直接通過U盤導出,一個(ge) 人即可完成測量,提高工作效率和準確性。對田間表型信息數據的獲取、促進表型研究和遺傳(chuan) 育種研究提供了技術支撐。
TPYM-G-1玉米株高測量儀(yi) 是一種便攜、快捷的株高測量設備,常用於(yu) 玉米高產(chan) 育種,理想株型篩選用,也可實現快速、高效的對玉米、水稻、小麥、油菜、等作物的株高測量,同時可滿足對玉米穗位的測量。