大豆表型檢測係統功能介紹

TPM-BX-1小麥表型檢測係統利用圖像識別和深度學習(xi) 技術，通過輪廓分析、形態學分析、模式分析學習(xi) 等，提取相關(guan) 有效特征，采用優(you) 良的深度神經網絡方法，在小麥大數據庫建立基礎上，建立高精度識別模型，完成小麥表型性狀的測量。小麥表型檢測儀(yi) 係統可測量小麥株高、夾角、莖粗、小麥畝(mu) 穗數、理論產(chan) 量、穗長、小穗數、總粒數和千粒重等指標，這些參數指標在小麥品種篩選、小麥產(chan) 量預測、麥穗動態發育、基因定位、功能解析和小麥遺傳(chuan) 育種研究中發揮著至關(guan) 重要的作用。