植物根係分析儀，用於研究根係形態和構造

　植物根係分析儀(yi) 是托普雲(yun) 農(nong) 生產(chan) 的一款檢測儀(yi) 器，可用於(yu) 研究植物根係形態和構造，可以分析根係長度、直徑、麵積、體(ti) 積、根尖記數等，功能強大，操作簡單，軟件可分析植物根係的形態，色彩、分級伸展分析及根係的整體(ti) 結構分布等。　　

根係分析係統利用高質量圖形掃描儀(yi) 獲取高分辨率植物根係彩色圖像或黑白圖像，該掃描儀(yi) 在掃描麵板下方和上蓋中安裝有專(zhuan) 門的雙光源照明係統，並且在掃麵板上預留了雙光源校準區域。　此外，還配備有不同尺寸的專(zhuan) 用、高透明度根係放置盤。掃描時，掃麵板下的光源和上蓋板中的光源同時掃過高透明度根盤中的根係樣品，這樣可以避免根係掃描時容易產(chan) 生的陰影和不均勻等現象的影響，有效地保障了獲取的圖像質量。