大豆表型檢測儀功能參數詳解

大豆表型檢測儀(yi) 是一款利用圖象來分析大豆表型相關(guan) 性狀的檢測係統，可以測量大豆夾角、莖粗、總粒數和千粒重等指標，這些高通量表型參數為(wei) 大豆品種篩選、產(chan) 量預測、基因定位、功能解析等方麵發揮著至關(guan) 重要的作用。大豆育種研究中，大豆表型參數和大豆產(chan) 量、品質、抗逆性等密切相關(guan) ，進而獲取這些參數也顯得尤為(wei) 重要，因此我們(men) 推出了大豆表型檢測儀(yi) 。大豆表型檢測儀(yi) 廣泛適用於(yu) 各農(nong) 科院、高校、育種公司、種子站的大豆研究。