專(zhuan) 業(ye) 農(nong) 業(ye) 儀(yi) 器生產(chan) 商
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當前位置:首頁 > 資料下載 > 葉麵積指數測量儀(yi) 詳解
葉麵積指數測量儀(yi) 是用於(yu) 各種高度植物冠層研究的儀(yi) 器,可以無損測量葉麵積指數、葉片平均傾(qing) 角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光係數、葉麵積密度的方位分布、冠層內(nei) 外的光合有效輻射(PAR)等參數。
葉麵積指數測量儀(yi) 廣泛應用於(yu) 作物、植物群體(ti) 冠層受光狀況的測量分析以及農(nong) 林業(ye) 科研工作。
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