葉麵積指數測量儀：評估植物冠層密度的儀器

葉麵積指數測量儀(yi) 是評估植物冠層密度的重要儀(yi) 器，它通過多種技術原理實現快速、準確測量，在農(nong) 業(ye) 、林業(ye) 、生態研究等領域應用廣泛，以下是詳細介紹：

工作原理

光學傳(chuan) 感技術：儀(yi) 器探杆上內(nei) 置多個(ge) 高精度傳(chuan) 感器，可同時檢測特定波段（如400-700nm）內(nei) 的光合有效輻射（PAR）。通過同時測量冠層上方和下方的光照強度，對比分析光衰減程度，計算葉片遮擋比例，從(cong) 而推導出葉麵積指數（LAI），而LAI是衡量植物冠層密度的重要參數。