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水稻整穗考種測量係統介紹

更新時間:2026-06-11      點擊次數:165

kaiyun开云真人研製的水稻整穗考種測量係統(典型型號TPDS-X-1 plus),是一套集成均勻透射背光成像、深度學習(xi) 視覺分割與(yu) 穗部拓撲解析算法的國產(chan) 科研級表型分析裝備,可在不脫粒、不破壞樣本的前提下,對水稻整穗穗部形態學參數與(yu) 枝梗結構性狀進行定量提取,服務於(yu) 水稻遺傳(chuan) 育種、品種區試及穗型構型研究。


一、係統構成與(yu) 工作原理

硬件組成

均勻透射背光板:超薄LED背光光源裝置,提供無陰影透射光照,使稻穗籽粒與(yu) 背景形成高對比度二值化圖像。

成像與(yu) 終端:兼容高清數碼相機或智能移動終端(androids係統),內(nei) 置自動像素標定標尺,支持任意高度與(yu) 角度拍攝後的幾何畸變校正。

承載與(yu) 暗箱:磨砂黑底承托麵板,抑製環境雜散光反射幹擾,確保穗軸與(yu) 一次/二次枝梗輪廓清晰可辨。

測量原理

將完整水稻穗子平鋪於(yu) 背光板上,移動終端采集整穗俯視圖像;軟件基於(yu) 卷積神經網絡(CNN)與(yu) 計算機視覺算法,自動識別穗軸主軸、一次枝梗、二次枝梗及著生籽粒輪廓,通過像素—物理尺寸標定換算實際長度與(yu) 數量,並按分枝序列對各枝梗獨立解算著粒數與(yu) 長度,實現整穗無損數字化重建。


二、核心分析功能

1、多參數批量分析:一鍵化自動分析各枝梗穗粒數、一次枝梗長度和對應穗粒數、二次枝梗長度和對應穗粒數、枝梗著粒密度、穗著粒密度以及平均值等,共測量23個(ge) 參數指標。

2、枝梗可整體(ti) 或者分步分析:一次枝梗和二次枝梗可單獨分析,也可同時分析。

3、LED 背光光源裝置:能夠去除種子陰影和雜質,背光清晰

4、自動換成千粒重:可通過識別的種子粒數,輸入重量,可自動換算出千粒重。

5、數據采集方式:可多點快速取樣,數據可批量分析並獲取平均值。

6、比例尺自動矯正:任意手機可拍照,且拍攝成像視角可以被自動矯正,避免了拍照變形誤差。

7、智能修正:動觸摸屏幕進行修正,使結果更精準,可達*。

8、數據查看:數據查看多樣化,拍照分析後即可查看結果,也可在曆史記錄中查看數據報表。

9、數據導出和共享:支持數據修正、查詢、編輯和導出,數據可導出Excel格式,並可分享至微信、QQ或者釘釘,便於(yu) 多應用方式查看數據。

10、動態加密:可通過驗證碼進行加密,一個(ge) 賬號可在多個(ge) 手機上使用,但不能同時使用。


三、典型應用領域

水稻遺傳(chuan) 育種:大批量育種材料穗部性狀(穗長、一次/二次枝梗數及長度、著粒密度、粒數)高通量篩選,為(wei) 理想株型育種與(yu) QTL定位提供數字化表型數據。

品種區域試驗與(yu) DUS測試:為(wei) 品種比較試驗及特異性—一致性—穩定性測試提供可重複量化的穗部性狀證據。

產(chan) 量構成解析:結合單位麵積穗數,輔助理論產(chan) 量估算與(yu) 高產(chan) 親(qin) 本選配。

栽培與(yu) 脅迫研究:不同播期、密度、肥力或逆境條件下穗部構型及結實性狀變化的定量評估。

四、學術價(jia) 值評述

該係統以國產(chan) 無損成像解析方案取代傳(chuan) 統人工脫粒數粒與(yu) 直尺測量,克服了人工考種效率低、主觀誤差大、穗部枝梗結構性狀難以量化的局限,使水稻穗部表型從(cong) 經驗描述升級為(wei) 具拓撲序列信息的數字化參數,是水稻育種與(yu) 表型組學研究中具代表性的本土化考種裝備。


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