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葉麵積測量儀(葉麵積測量儀詳細介紹)

更新時間:2023-10-20      點擊次數:967

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一、葉麵積測量儀簡介

托普雲(yun) 農(nong) YMJ-D葉麵積測量儀(yi) 通過手機拍照獲取葉片圖像,然後利用軟件實現葉麵積的測定,可進行無損傷(shang) 活體(ti) 測量,也可對采摘的植物葉片及其它片狀物體(ti) 進行麵積測量,能夠快速獲取葉麵積、葉長、葉寬、周長、長寬比、形狀因子、形狀係數等參數,廣泛應用在農(nong) 、林、牧、草等領域。


二、葉麵積測量儀功能特點

1、采用了人機工學原理,使用方便,操作簡單;

2、葉脊厚薄設計,更強的適應不同植物葉片的厚度,測完不影響植物生長;

3、采用輕觸按鈕設計,保證測量時采集圖片的準確性,輕觸按鈕使用次數超過萬(wan) 次;

4、係統自動分離采集對象與(yu) 背景的顏色,大大提升了數據測量的精度;

5、可實現單次葉片分析,也支持較長葉片多次采集;

6、一鍵分析可測量葉片的多種參數:葉麵積、葉長、葉寬、長寬比、周長、形狀因子、形狀係數;

7、支持多組實驗數據和圖片導出excel表格,並可轉發至其他應用軟件或者導出至電腦端,數據自動長期保存至雲(yun) 端;

8、支持用戶自主注冊(ce) ,數據與(yu) 賬戶自動綁定;

9、支持手機APP掃描二維碼與(yu) 設備綁定;

10、軟件自動更新。

 

三、葉麵積測量儀技術參數

1、葉片長測量範圍:單次采集範圍為(wei) 0-110 mm(支持多張圖像拚接,最長2m)

2、葉片長測量精度:單次采集測量精度為(wei) ±1%,拚接精度可控在±2%;

3、葉片寬測量範圍:0-150 mm

4、葉片寬測量精度:單次采集測量精度為(wei) ±1%,拚接精度可控在±2%;

5、長寬比測量範圍:0.00-10.00

6、長寬比測量精度:葉片長測量精度:單次采集測量精度為(wei) ±2%,拚接精度可控在±2%;

7、周長測量範圍:0-1,000 mm

8、周長測量精度:單次采集測量精度為(wei) ±2%,拚接精度可控在±3%;

9、麵積測量範圍:0-1,000,000 mm²

10、麵積測量精度:單次采集測量精度為(wei) ±1%,拚接精度可控在±2%;

11、形狀因子範圍:0.00-1.00

12、形狀因子測量精度:單次采集測量精度為(wei) ±2%,拚接精度可控在±5%;

13、形狀係數範圍:0.00-1.00

14、形狀係數測量精度:單次采集測量精度為(wei) ±2%,拚接精度可控在±5%;


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