使用作物冠層分析儀除了要避免陽光直射，這三點也一定要注意

　　作物生長狀況受很多因素的影響，比如作物種子質量、土壤環境、大氣環境、農(nong) 民種植技術等等，有些是人為(wei) 可以控製的，而有些是人們(men) 無法左右的，經過植物學家研究得出，作物冠層與(yu) 作物生長狀況有著重要的關(guan) 係，研究作物冠層，能夠研究光能對植物生長的促進作用，而這些都離不開作物冠層分析儀(yi) ，作物冠層分析儀(yi) 主要用於(yu) 分析植物的冠層狀況，在使用作物冠層分析儀(yi) 時除了要避免陽光直射，這三點也一定要注意：
　　1.要注意葉片與(yu) 傳(chuan) 感器的距離
　　作物冠層分析儀(yi) 是利用傳(chuan) 感器來進行測量的，因此測量的過程中，要注意葉片與(yu) 傳(chuan) 感器的距離，因為(wei) 太近也會(hui) 導致測量的誤差。因此要明確葉片與(yu) 傳(chuan) 感器的距離限製，如果距離無法縮小，可以考慮增加重複次數來解決(jue) 這個(ge) 問題。
　　2.注意斜坡的影響
　　在測量的過程中，有些測量對象是在斜坡上的，因此此時就需要注意了，對於(yu) 斜坡測量，使用作物冠層分析儀(yi) 的時候，應該盡量使傳(chuan) 感器保持與(yu) 斜坡相匹配，而不是實際的水平。
    3.注意樣地尺寸的影響
    由於(yu) 在測量的過程中，要保證傳(chuan) 感器的視野範圍是冠層高度的3倍，因此這就對樣地的尺寸有要求，如果尺寸太小，勢必會(hui) 影響測定結果，但是如果實在是無法解決(jue) 樣地尺寸太小的問題，那麽(me) 可以采用觀察帽的方法。
　　作物冠層分析儀(yi) 型號為(wei) TOP-3000，植物冠層太大，不利於(yu) 植物的光合作用，這樣植物生長就會(hui) 受阻，作物冠層分析儀(yi) 分析作物的冠層生長狀況，從(cong) 而可以進一步分析作物長勢。